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 Bienvenue dans la collection HAL du groupe DSF : Diélectriques Solides et Fiabilité

Les activités de l’équipe concernent en premier lieu la fiabilité des systèmes isolés. Les travaux ont pour objectif la compréhension des mécanismes de génération et de transport de charges dans les isolants, ainsi que l’identification des processus conduisant au vieillissement et à la rupture de matériaux compte tenu des contraintes fonctionnelles rencontrées dans les dispositifs. Pour cela, des techniques de caractérisation originales sont mises en œuvre et l’on s’appuie sur une simulation numérique des phénomènes de transport. Pour plus d'informations sur nos recherches.

 

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Accumulation characteristics Charge trapping Silicon compounds HVDC PEA Electron beam Rotating machines Partial discharges AgNPs Charge measurement Cathodoluminescence Silver nanoparticles Cumyl alcohol BSA Thin films Power cables Fluid model Insulation Electron beams FLIMM Space charge Current measurement Polyimide Electron-beam irradiation Conduction current HVDC cable Dielectric materials Electrodes Plasma process Ac electric field Polymeric insulation Dielectric properties Charge injection Electrical engineering Electric potential Electroluminescence Polymer Pulsed electro acoustic method Electrical properties Modeling Silver Electric field Thermal aging LDPE Electromechanical stress Dielectric strength Dielectric material Mechanical properties Nanostructured dielectrics Electrical ageing E-Beam DC stress Luminescence Electric field distribution Transport DC conductivity Doping Cross-linking by-products Epoxy resin Interfacial charge Polypropylene Dielectrics AFM Polyethylene EFM Polymers Aluminum oxide Dielectric charging Charge d'espace Electrostatics Ageing Cable Acoustic wave propagation Electrical insulation Insulating polymers Cross-linked polyethylene Polarization Bipolar charge transport model SiO2 Permittivity LIMM Proteins Optimization Breakdown Plasma processes Conductivity Charge transport Charge transport model KPFM Dielectric films Dielectric Radiation effects XLPE Atomic force microscopy Electrical conductivity C-AFM FTIR Field distribution PTFE Polarity reversal

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