In situ X-ray diffraction studies of the piezoelectric behavior of PZT thin films - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

In situ X-ray diffraction studies of the piezoelectric behavior of PZT thin films

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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01453244

Soumis le : jeudi 2 février 2017-16:26:18

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Dates et versions

hal-01453244 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453244 , version 1

Citer

T.W. Cornelius, C. Mocuta, S. Escoubas, E.C. Lima, E.B. Araujo, et al.. In situ X-ray diffraction studies of the piezoelectric behavior of PZT thin films. Meeting of the French Crystallography Association (AFC 2016), Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453244⟩

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