Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01453251
Soumis le : jeudi 2 février 2017-16:30:53
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01453251 , version 1
Citer
T.W. Cornelius, Z. Ren, M. Dupraz, G. Beutier, M. Verdier, et al.. In situ nano-mechanical tests in the light of synchrotron X-ray diffraction. Meeting of the French Crystallography Association (AFC 2016), Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453251⟩
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