Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante - Aix-Marseille Université Access content directly
Conference Papers Year : 2016

Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante

A. Merabet
  • Function : Author
C. Tromas
M. Verdier
A. Talneau
  • Function : Author
J. Godet
No file

Dates and versions

hal-01453342 , version 1 (02-02-2017)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01453342 , version 1

Cite

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Etude des défauts étendus produits par la compression de nanopiliers de silicium à temperature ambiante. Plasticité, Apr 2016, Poitiers, France. ⟨hal-01453342⟩
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