Structure et propagation de défauts dans les nanopiliers de silicium - Aix-Marseille Université Accéder directement au contenu
Communication Dans Un Congrès Année : 2016
Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01453348 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453348 , version 1

Citer

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Structure et propagation de défauts dans les nanopiliers de silicium. Congrés de l’Association Française de Cristallographie, Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453348⟩
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