Resistive RAM Variability Monitoring using a Ring Oscillator based Test Chip - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Resistive RAM Variability Monitoring using a Ring Oscillator based Test Chip

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01463136

Soumis le : jeudi 9 février 2017-13:59:04

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01463136 , version 1 (09-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01463136 , version 1

Citer

Hassen Aziza, Jean-Michel Portal. Resistive RAM Variability Monitoring using a Ring Oscillator based Test Chip. 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016), Sep 2016, Halle, Germany. ⟨hal-01463136⟩

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