Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01463140
Soumis le : jeudi 9 février 2017-14:01:22
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01463140 , version 1
Citer
P. Canet, J. Postel-Pellerin, Hassen Aziza. Impact of Resistive Paths on NVM Array Reliability: Application to Flash & ReRAM Memories. 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016), Sep 2016, Halle, Germany. ⟨hal-01463140⟩
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