A 225 μm2 Probe Single-Point Calibration Digital Temperature Sensor Using Body-Bias Adjustment in 28 nm FD-SOI CMOS - Aix-Marseille Université
Article Dans Une Revue IEEE Solid-State Circuits Letters Année : 2018

A 225 μm2 Probe Single-Point Calibration Digital Temperature Sensor Using Body-Bias Adjustment in 28 nm FD-SOI CMOS

Martin Cochet
  • Fonction : Auteur
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Ben Keller
  • Fonction : Auteur
Sylvain Clerc
  • Fonction : Auteur
  • PersonId : 768760
  • IdRef : 169806308
STMicroelectronics [Crolles]
Fady Abouzeid
STMicroelectronics [Crolles]
Andreia Cathelin
STMicroelectronics [Crolles]
Jean-Luc Autran
Institut des Matériaux, de Microélectronique et des Nanosciences de Provence
Philippe Roche
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STMicroelectronics [Crolles]
Borivoje Nikolic
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Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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Soumis le : jeudi 25 avril 2019-17:26:56

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Dates et versions

hal-02111066 , version 1 (25-04-2019)

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Citer

Martin Cochet, Ben Keller, Sylvain Clerc, Fady Abouzeid, Andreia Cathelin, et al.. A 225 μm2 Probe Single-Point Calibration Digital Temperature Sensor Using Body-Bias Adjustment in 28 nm FD-SOI CMOS. IEEE Solid-State Circuits Letters, 2018, 1 (1), pp.14-17. ⟨10.1109/LSSC.2018.2797427⟩. ⟨hal-02111066⟩

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