Altitude and Underground Real-Time SER Testing of SRAMs Manufactured in CMOS Bulk 130, 65 and 40 nm - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2014

Altitude and Underground Real-Time SER Testing of SRAMs Manufactured in CMOS Bulk 130, 65 and 40 nm

Résumé

We present an up-to-date survey of real-time testing results accumulated from 2006 in altitude (ASTEP platform) and underground (Modane Laboratory). Radiation data concern three generations of SRAMs manufactured in CMOS 130, 65 and 40 nm.

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-04373085

Soumis le : jeudi 4 janvier 2024-18:29:21

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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Dates et versions

hal-04373085 , version 1 (04-01-2024)

Identifiants

  • HAL Id : hal-04373085 , version 1

Citer

Jean-Luc Autran, Daniela Munteanu, Sébastien Sauze, Gilles Gasiot, Philippe Roche. Altitude and Underground Real-Time SER Testing of SRAMs Manufactured in CMOS Bulk 130, 65 and 40 nm. IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference (NSREC 2014), Jul 2014, Paris, France. ⟨hal-04373085⟩

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