Effect Of Short Pulsed Program/Erase Cycling On Flash Memory Devices - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

Effect Of Short Pulsed Program/Erase Cycling On Flash Memory Devices

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

IM2NP Bibliométrie  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://amu.hal.science/hal-01437034

Soumis le : lundi 16 janvier 2017-21:41:26

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01437034 , version 1 (16-01-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01437034 , version 1

Citer

P. Chiquet, J. Postel-Pellerin, C. Tuninetti, S. Souiki-Figuigui, P. Masson. Effect Of Short Pulsed Program/Erase Cycling On Flash Memory Devices. Workshop on New Perspectives in Measurements, Tools and Techniques for system’s reliability, maintainability and safety, Jun 2016, Milan, Italy. ⟨hal-01437034⟩

Exporter

BibTeX XML-TEI Dublin Core DC Terms EndNote DataCite

Collections

UNIV-TLN CNRS UNIV-AMU IM2NP
75 Consultations
0 Téléchargements

Partager

More