In situ Synchrotron X-ray Imaging of Extended Defects Generation and Evolution during Monocrystalline Si Seeded Growth - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

In situ Synchrotron X-ray Imaging of Extended Defects Generation and Evolution during Monocrystalline Si Seeded Growth

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https://amu.hal.science/hal-01452264

Soumis le : mercredi 1 février 2017-17:14:58

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

Fichier non déposé

Dates et versions

hal-01452264 , version 1 (01-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01452264 , version 1

Citer

M.G. Tsoutsouva, T. Riberi-Béridot, G. Reinhart, G. Regula, Nathalie Mangelinck-Noël. In situ Synchrotron X-ray Imaging of Extended Defects Generation and Evolution during Monocrystalline Si Seeded Growth. Silicon PV2016, Mar 2016, Chambéry, France. ⟨hal-01452264⟩

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