In situ piezoelectric studies of PZT thin films by X-ray microdiffraction - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2016

In situ piezoelectric studies of PZT thin films by X-ray microdiffraction

Domaines

Micro et nanotechnologies/Microélectronique

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https://amu.hal.science/hal-01453231

Soumis le : jeudi 2 février 2017-16:19:03

Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03

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Dates et versions

hal-01453231 , version 1 (02-02-2017)

Identifiants

  • HAL Id : hal-01453231 , version 1

Citer

T. Cornelius, C. Mocuta, S. Escoubas, E.C. Lima, E.B. Araujo, et al.. In situ piezoelectric studies of PZT thin films by X-ray microdiffraction. 13th Biennial Conference on High Resolution X-Ray Diffraction and Imaging (XTOP2016), Sep 2016, Brno, Czech Republic. ⟨hal-01453231⟩

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