Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01453356
Soumis le : jeudi 2 février 2017-16:58:46
Dernière modification le : mardi 5 décembre 2023-18:08:07
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01453356 , version 1
Citer
A. Fraczkiewicz, E. Capria, G. Chahine, P. Cloetens, J. Da Silva, et al.. 3D morphological and structural nano-characterization for microelectronics: the potential of recent, long synchrotron beamlines. X-Ray Microscopy Conference (XRM 2016), Aug 2016, Oxford, United Kingdom. ⟨hal-01453356⟩
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