Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01463147
Soumis le : jeudi 9 février 2017-14:04:33
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01463147 , version 1
Citer
A. Bravaix, F. Cacho, X. Federspiel, C. Ndiaye, S. Mhira, et al.. Potentiality of Healing Techniques in Hot-Carrier Damaged 28nm FDSOI CMOS nodes. 27th European Symposium on Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis (ESREF 2016), Sep 2016, Halle, Germany. ⟨hal-01463147⟩
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