Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition and characterization of TiO2 antireflection coatings for monocrystalline silicon solar cells - Aix-Marseille Université
Communication Dans Un Congrès Année : 2011

Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition and characterization of TiO2 antireflection coatings for monocrystalline silicon solar cells

Domaines

Physique [physics]

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https://amu.hal.science/hal-01757696

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hal-01757696 , version 1 (03-04-2018)

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Citer

D. Hocine, M. Pasquinelli, Ludovic Escoubas, P. Torchio, A. Moreau, et al.. Atmospheric Pressure Chemical Vapor Deposition and characterization of TiO2 antireflection coatings for monocrystalline silicon solar cells. 2011 International Conference on Clean Electrical Power (ICCEP) - Proceedings of the ICCEP'2011, IEEE-IES (Industrial Electronics Society), pp. 145-152 (2011)., Jun 2011, Ischia, France. ⟨10.1109/ICCEP.2011.6036368⟩. ⟨hal-01757696⟩

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