Conference Papers
Year : 2017
IM2NP Bibliométrie : Connect in order to contact the contributor
https://amu.hal.science/hal-01763109
Submitted on : Tuesday, April 10, 2018-5:15:01 PM
Last modification on : Friday, March 24, 2023-2:53:07 PM
Dates and versions
Identifiers
- HAL Id : hal-01763109 , version 1
Cite
A. Merabet. Imagerie HRTEM de défauts dans les nanopiliers de silicium déformés à basse température. Société française de microscopie 2017, Jul 2017, Bordeaux, France. ⟨hal-01763109⟩
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