Coupling Secondary Ion Mass Spectrometry and Atom Probe Tomography for Atomic Diffusion and Segregation Measurements - Aix-Marseille Université
Article Dans Une Revue Microscopy and Microanalysis Année : 2019

Coupling Secondary Ion Mass Spectrometry and Atom Probe Tomography for Atomic Diffusion and Segregation Measurements

Domaines

Science des matériaux [cond-mat.mtrl-sci]

Alain Portavoce  : Connectez-vous pour contacter le contributeur

https://amu.hal.science/hal-02381654

Soumis le : mardi 26 novembre 2019-17:06:06

Dernière modification le : mercredi 10 juillet 2024-16:10:15

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Dates et versions

hal-02381654 , version 1 (26-11-2019)

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Citer

Alain Portavoce, Khalid Hoummada, Lee Chow. Coupling Secondary Ion Mass Spectrometry and Atom Probe Tomography for Atomic Diffusion and Segregation Measurements. Microscopy and Microanalysis, 2019, 25 (02), pp.517-523. ⟨10.1017/S1431927618015623⟩. ⟨hal-02381654⟩

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