Communication Dans Un Congrès
Année : 2016
IM2NP Bibliométrie : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-01452740
Soumis le : jeudi 2 février 2017-10:59:55
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-01452740 , version 1
Citer
O. Thomas. Strain and Lattice Orientation Mapping using Advanced X-ray Nano-Diffraction. 14th International Conference Reliability and Stress-Related Phenomena in Nanoelectronics–Experiment and Simulation, May 2016, Dresden, Germany. ⟨hal-01452740⟩
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