Article Dans Une Revue
Materials Science in Semiconductor Processing
Année : 2006
Olivier Palais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-03350274
Soumis le : mardi 21 septembre 2021-11:05:08
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Citer
S. Martinuzzi, O. Palais, S. Ostapenko. Scanning techniques applied to the characterisation of P and N type multicrystalline silicon. Materials Science in Semiconductor Processing, 2006, 9 (1-3), pp.230-235. ⟨10.1016/j.mssp.2006.01.079⟩. ⟨hal-03350274⟩
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