Article Dans Une Revue
Materials Science and Engineering: B
Année : 2002
Olivier Palais : Connectez-vous pour contacter le contributeur
https://amu.hal.science/hal-03350311
Soumis le : mardi 21 septembre 2021-11:17:25
Dernière modification le : lundi 10 juin 2024-16:58:03
Dates et versions
Identifiants
- HAL Id : hal-03350311 , version 1
- DOI : 10.1016/S0921-5107(01)00998-9
Citer
O. Palais, E. Yakimov, S. Martinuzzi. Minority carrier lifetime scan maps applied to iron concentration mapping in silicon wafers. Materials Science and Engineering: B, 2002, 91-92, pp.216-219. ⟨10.1016/S0921-5107(01)00998-9⟩. ⟨hal-03350311⟩
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