Structure et propagation de défauts dans les nanopiliers de silicium - Aix-Marseille Université Access content directly
Conference Papers Year : 2016
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Dates and versions

hal-01453348 , version 1 (02-02-2017)

Identifiers

  • HAL Id : hal-01453348 , version 1

Cite

A. Merabet, M. Texier, C. Tromas, M. Verdier, A. Talneau, et al.. Structure et propagation de défauts dans les nanopiliers de silicium. Congrés de l’Association Française de Cristallographie, Jul 2016, Marseille, France. ⟨hal-01453348⟩
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